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    個(gè)人簡介
    張濤,華碧司法鑒定人.曾參與制定《電子器件晶元級(jí)電性異常失效分析物證鑒定通用技術(shù)規(guī)范》、《LED產(chǎn)品失效分析物證鑒定通用技術(shù)規(guī)范》等技術(shù)規(guī)范。曾發(fā)表多篇論文:《微量物證技術(shù)在鋼化玻璃爆裂原因鑒定中的應(yīng)用》、《微量物證技術(shù)在鋰離子電池隔膜的質(zhì)量鑒定中的應(yīng)用》、《微量物證技術(shù)在醫(yī)用金屬接骨板斷裂原因鑒定中的應(yīng)用》、《微量物證技術(shù)在礦熱爐耐火材料質(zhì)量鑒定中的應(yīng)用》、《LED顯示屏條狀缺陷原因判定及修復(fù)驗(yàn)證的質(zhì)量鑒定應(yīng)用案例》等;曾申請(qǐng)多項(xiàng)發(fā)明專利如:《一種功率器件單元區(qū)和保護(hù)環(huán)區(qū)PN結(jié)的結(jié)深測量方法》、《一種外延層結(jié)深染色的校正方法》、《一種LED死燈的電學(xué)篩選方法》、《一種半導(dǎo)體功率器件失效分析的失效點(diǎn)定位方法》、《一種MOSFET器件LDD結(jié)構(gòu)的定性分析方法》、《一種超結(jié)高壓功率MOSFET器件摻雜結(jié)構(gòu)的染色分析方法》、《一種卡類產(chǎn)品芯片碎裂的無損檢測方法》、《一種汽車電子中電動(dòng)機(jī)轉(zhuǎn)子漆包線斷裂的失效分析方法》、《一種汽車電子中接觸端子的失效分析方法》、《一種雙極型晶體管器件摻雜結(jié)構(gòu)的PN結(jié)染色方法》、《一種小尺寸晶圓樣品結(jié)構(gòu)截面觀察的樣品制備方法》、《一種液晶面板顯示驅(qū)動(dòng)芯片的電性分析方法》、《一種獲取高清晰聚焦離子束加工截面圖像的方法》、《一種掃描電子顯微鏡進(jìn)行粉末狀樣品形貌觀察的分析方法》、《一種硅鐵熱爐爐體燒穿原因的鑒定方法》等。張濤曾參與的部分鑒定案例:1、《對(duì)LED顯示屏的損壞原因進(jìn)行物證鑒定》詳情:http://www.sfjdzx.com/anlixiangqing.asp?ncid=89&fristid=3292、《醫(yī)用接骨板物證鑒定》詳情:http://www.sfjdzx.com/anlixiangqing.asp?ncid=61&fristid=330,3323、《涉案金屬接骨板及金屬接骨螺釘?shù)馁|(zhì)量是否合格物證鑒定》詳情:http://www.sfjdzx.com/anlixiangqing.asp?ncid=106&fristid=330,3324、《鋁合金門窗產(chǎn)品真?zhèn)挝镒C鑒定》詳情:http://www.sfjdzx.com/anlixiangqing.asp?ncid=70&fristid=3325、《新疆烏魯木齊LED顯示屏質(zhì)量物證鑒定》詳情:http://www.sfjdzx.com/anlixiangqing.asp?ncid=73&fristid=329
    執(zhí)業(yè)信息
    • 性別:
    • 年齡:45
    • 職稱:
    • 學(xué)歷:碩士
    • 從業(yè)類型:專職
    • 從業(yè)年限:11年
    • 度案件量:29
    • 度案件量:29
    • 執(zhí)業(yè)證號(hào):3100112081
    • 申領(lǐng)時(shí)間:2011-11-22
    • 有效時(shí)間:2011-11-22至2020-04-16
    業(yè)務(wù)范圍
    微量物證鑒定