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劉學(xué)森——司法鑒定人，失效分析領(lǐng)域?qū)＜?。曾?jīng)參與制定相關(guān)技術(shù)規(guī)范如：《電子電器產(chǎn)品覆銅板玻纖漏電失效物證鑒定技術(shù)規(guī)范》、《電氣火災(zāi)一次短路和二次短路熔痕物證鑒定規(guī)范》、《電子電器產(chǎn)品系統(tǒng)級(jí)失效分析物證鑒定通用技術(shù)規(guī)范》、《電子元器件封裝級(jí)失效分析物證鑒定通用技術(shù)規(guī)范》、《電子器件晶圓級(jí)電性異常失效分析物證鑒定通用技術(shù)規(guī)范》、《電子電器產(chǎn)品板級(jí)失效分析物證鑒定通用技術(shù)規(guī)范》等；曾經(jīng)發(fā)表學(xué)術(shù)論文《微量物證技術(shù)在鋼化玻璃爆裂原因鑒定中的應(yīng)用》、《微量物證技術(shù)在鋰離子電池隔膜的質(zhì)量鑒定中的應(yīng)用》、《失效分析技術(shù)在開(kāi)關(guān)電源質(zhì)量鑒定中的應(yīng)用》等十余篇。曾申請(qǐng)并獲得多項(xiàng)發(fā)明專利如：《集成電路缺陷定位測(cè)試系統(tǒng)及實(shí)現(xiàn)方法》、《一種PCB板失效分析方法》、《一種失效分析方法》等。劉學(xué)森曾參與過(guò)的部分鑒定案例：1、《LED模塊中的電路板失效分析物證鑒定》詳情：http://www.sfjdzx.com/anlixiangqing.asp?ncid=72&fristid=3292、《漏電斷路器質(zhì)量問(wèn)題物證鑒定》詳情：http://www.sfjdzx.com/anlixiangqing.asp?ncid=65&fristid=331,3383、《手機(jī)觸摸屏是否具備相關(guān)技術(shù)特征的符合性物證鑒定》詳情：http://www.sfjdzx.com/anlixiangqing.asp?ncid=112&fristid=3294、《安徽車輛起火原因物證鑒定》詳情：http://www.sfjdzx.com/anlixiangqing.asp?ncid=151&fristid=1,3385、《對(duì)汽車?yán)^電器是否存在質(zhì)量問(wèn)題和火災(zāi)起火原因進(jìn)行物證鑒定》詳情：http://www.sfjdzx.com/anlixiangqing.asp?ncid=128&fristid=1,329,338

• 性別：男
• 年齡：45
• 職稱：中級(jí)
• 學(xué)歷：碩士
• 從業(yè)類型：專職
• 從業(yè)年限：11年
• 度案件量：-
• 度案件量：-
• 執(zhí)業(yè)證號(hào)：3100112080
• 申領(lǐng)時(shí)間：2011-11-22
• 有效時(shí)間：2011-11-22至2020-04-16